许多应用涉及大发散角或大尺寸的光束，例如 VCSEL(垂直腔面发射激光器)、激光二极管、LED 和光纤激光器。这些器件工作于 UV(紫外)、可见光(Visible)和 NIR(近红外)波段，并被广泛用于需要 3D 成像的设备中，如人脸识别或手势识别、AR/VR、医疗设备以及自动驾驶汽车。
为保证所有这些应用的最佳性能，光束轮廓(beam profile)的表征非常重要。然而，传统光束分析仪的孔径过小，无法捕获整束光。此外，发散光束无法用常规探测器准确测量，因为探测器的响应高度依赖于入射角。
WB-I VIS广角光束成像解决方案
WB-I VIS(广角光束成像仪)专为 350-1100nm 范围设计，可测量发散角最大达 70° 的光束的轮廓和发散度，而标准光束分析仪传感器仅为 15°。
WB-I VIS它是一套紧凑、经过校准的光学系统，用于测量大尺寸及发散光束的尺寸和功率分布，有效孔径最大可达 45mm。其结构坚固，既可用于现场条件，也可作为实验室装置使用。
光束被捕获在一块大尺寸漫射屏(diffusive screen)上，随后通过可变衰减器(variable attenuator)，由 CCTV 镜头重新成像到分析仪相机上。该相机配合 BeamGage 软件，可生成光强分布的完整且精确的映射图。
采用 Ophir 的高分辨率相机 SP932U。该相机使用一种 BeamGage 软件，可在 NIR 波段提升测量精度，同时具备更快的帧率和更宽的动态范围。
WB-I VIS 还采用光圈(iris diaphragm)来调节光强至最佳水平。这对于现场测试尤为方便，因为仪器开箱即用，无需额外的"现场"搭建。
950 nm 发散型 VCSEL 光束轮廓
WB-I VIS介绍
WB‑I 为 VCSEL 与 LED 系统带来便携光束分析能力，适用于研发实验室、生产车间以及现场服务场景。宽光束成像仪配件可测量 LED、VCSEL 等光源输出的发散光束或大直径光束，也可测量大直径平行光束的光斑尺寸与功率分布。
光束尺寸：10‑45 mm
波长范围：350‑1100 nm、900‑1700 nm
功能：测量大直径光束的光斑尺寸与功率分布
SP932U 介绍
SP932U 全局快门 CMOS 高分辨率相机，精度得到提升，针对常用近红外以及 Nd:YAG 波长，搭配 BeamGage “光晕校正” 算法。紧凑型方形结构，提升装置配置灵活性。
技术规格
光谱范围: 190‑1100 nm
光束尺寸: 34.5μm‑5.3mm
通信接口: USB 3.0
传感器类型: Silicon CMOS
兼容的光源: CW, Pulsed
有效面积: 7.06mm x 5.3mm
CCD凹槽: 4.5mm
元件: 2048 x 1536
有效像素间距: 3.45μm
动态范围: 72 dB
全分辨率帧率: 24fps
饱和强度: 32μW/cm² at 633nm, 500μW/cm² at 1064nm
关于我们
深圳市博纳德精密仪器有限公司产品有ALPHALAS激光器、激光功率计、光束分析仪、光束收集器、光斑分析仪、高功率连续变焦光纤激光器准直头FAC、德国FEMTO、德国GTE、德国hhb Electronic、Pacific Lasertec氦氖激光器、SRS斯坦福放大器、Scitec光学斩波器、AA Lab Systems设备、DL Instruments放大器等其它专业设备，如有需求可以联系咨询我们。
