在光电行业飞速发展的当下，市场对于高效可靠的测量设备需求持续上涨。荧光粉镀膜的 SP203P 光束轮廓相机，专为满足高性价比 SWIR(短波红外)发射测量的旺盛需求研发，有望推动工业机器视觉、通信等多个行业迎来新变革。
适配 SWIR 光源
SWIR 发光器件，特别是 1550nm 波段光源，在各行各业应用广泛。工业机器视觉中用于工件检测、分拣与质检;同时覆盖通信、遥感领域。该波段光在光纤中损耗低，适配远距离通信;还能够穿透雾气，成像分辨率高、画面对比度出色，是自动驾驶 LIDAR(激光雷达)系统的核心元器件。
测量光源的必要性
短波红外发射器的广泛应用也带来了一系列挑战。这些设备通常部署在工业现场环境中，并集成到各种设备中，因此需要定期测量发射器的光束质量、均匀性和功率分布。如果未能及时发现由内部因素或污染引起的发射器性能下降，可能会显著影响传感器读数，导致结果不准确，并可能造成高昂的损失。
SP203P 光斑分析仪
传统上，基于InGaAs传感器的短波红外(SWIR)相机一直是SWIR辐射测量的首选解决方案。然而，其高昂的成本和易受法规限制的特点，使得它们对于现场技术人员而言并不实用。为了填补这一市场空白，Ophir MKS推出了SP203P光束分析仪相机。
SP203P工作原理
SP203P 使用表层镀荧光粉的常规 CMOS 传感器,短波红外 (SWIR) 光被荧光粉涂层吸收，随后以可见光波段发射至 CMOS 传感器。虽然精度不如 SWIR 相机，但 SP203P 为在现场条件下评估 SWIR 发射器提供了一种实用且经济高效的解决方案。
1550nm激光光束轮廓的BeamGage图像
SP203P 在 SWIR 发射测量领域实现重要突破。作为高价专业红外相机的平替方案，它让现场工程师可以在实际工况中精准检测 SWIR 光源，保障各类设备稳定可靠运行。凭借创新结构与成本优势，SP203P 将会成为前沿光电领域不可或缺的测量工具。
