精准的激光光束表征在越来越多的光子学应用中至关重要，从激光雷达、人脸识别到光通信、军用系统。但对许多工程师与系统集成商而言，获取高质量短波红外(SWIR)光束轮廓分析历来需要昂贵且受出口管制的相机技术。
为解决这一缺口， Ophir推出 SP301Q 胶体量子点(CQD)光束轮廓仪，旨在以更易获取、更具成本效益的平台，在可见光、NIR、SWIR 波段提供高性能。
Ophir® SP301Q 胶体量子点 (CQD) 光束分析仪
扩大 SWIR 光束轮廓分析的可及性
传统 SWIR 光束表征通常依赖 InGaAs 相机传感器，这类技术成本高且受两用物项出口管制。SP301Q 轮廓仪采用胶体量子点(CQD)传感器技术突破这些限制。CQD 传感器由纳米级半导体晶体制成，提供高效替代方案，同时性能可与基于 InGaAs 的系统媲美。
该方案可实现：
更低的系统成本
更低的监管复杂度
SWIR 应用高灵敏度
精度与分辨率媲美传统方案
宽波长覆盖：400–1700 nm
SP301Q 支持宽光谱范围光束表征：
● 特别针对 1550 nm SWIR 激光器优化
● 波长覆盖 400 nm 至 1700 nm
● 兼容可见光、NIR、SWIR 光源
1550 nm 激光器因对人眼安全、大气传输特性好而被广泛使用，非常适合激光雷达、光通信、遥感及军用应用。
高保真光束分析
本轮廓仪专为精细光束诊断设计，集灵敏度、速度与动态性能于一体：
● 低信号检测高灵敏度
● 宽动态范围
● 全局快门
这些能力可实现精准分析：
● 光束形状
● 光斑尺寸
● 空间功率分布
传感器和成像技术规格
SP301Q 旨在平衡测量精度与实际易用性：
● 有效区域：9.6 mm × 7.7 mm
● 分辨率：640 × 512 像素(VGA)
● 像素尺寸：15µm x15 µm
该规格支持精细空间轮廓分析，同时保持高效数据处理，便于集成到实验室或生产环境。
搭载 BeamGage软件
本轮廓仪标配 BeamGage，这是广泛用于科研与工业领域的先进光束分析平台。
核心功能包括：
● 符合 ISO 的光束测量
● 功率密度分析
● 光斑直径与位置计算
● 全面的光束表征工具
BeamGage 基于 Ultracal™ 构建，这是一项专有基线校正算法，助力确立光束测量精度的 ISO 11146-3 标准。
软件附加功能包括：
● 高级图像处理
● 趋势图表
● 数据记录
● 合格 / 不合格测试
● 多语言界面支持
专为集成与生产环境设计：激光雷达、通信、国防
除实验室外，SP301Q 还通过以下特性支持工业部署：
● GigE 接口，实现高速数据传输
● 无缝接入制造与测试网络
使其适用于在线监测、自动化测试与工艺验证流程。
集成到生产环境
● 本轮廓仪适用于多种光子学与光电应用场景，包括：
● 自动驾驶激光雷达
● 遥感
● 光通信
● 国防与军用激光系统
