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Ophir SP403P短波红外光束分析仪

时间:2026-05-21 14:58:53 作者:博纳德精密仪器 点击:

在实际环境中测量短波红外(SWIR)激光光束,长期以来需要在视场、成本和部署便捷性之间进行权衡。虽然大面阵 SWIR 相机并非新技术,但许多解决方案仍然复杂、昂贵,或难以在受控实验室环境之外部署。

Ophir SP403P SWIR 光束轮廓仪是作为一种更实用的替代方案开发的,它结合了尺寸合适的成像区域、亲民的价格和简单的操作,非常适合工业和现场使用。

重要性

SWIR 波长,尤其是人眼安全的 1550nm 波段,在遥感、激光雷达、光通信以及航空航天和国防系统等应用中发挥着重要作用。在许多此类环境中,光束轮廓分析不仅需要用于详细分析,还需要用于对准、验证和持续监测,这些应用往往受到纯测量性能之外的各种限制。

SP403P 通过专注于易用性和部署性来满足这些需求,而非追求高精度、高复杂度的解决方案。

专为实际短波红外光束可视化而设计

SP403P

SP403P 提供的成像传感器尺寸非常适合常见的 SWIR(1440-1605nm)光束可视化和对准任务,无需承担高端系统相关的成本和复杂度。其设计可适配从 600 µm 到 12.3 mm 的光束尺寸,支持研发、生产和现场环境中的广泛应用。

SP403P 并非推出全新的传感器类别,而是为寻求可靠且易用的 SWIR 光束轮廓分析解决方案的用户提供了实用的升级选择,尤其可作为前代系统的替代产品。

工程师不应在覆盖范围、成本和易用性之间做出妥协。SP403P 将这些要素结合在一起,且不存在限制全球部署的出口管制壁垒。

软件与工作流程支持

SP403P 由 BeamGage软件提供支持,提供符合 ISO 11146-3 的标准化光束分析工作流程。BeamGage 支持用户执行关键的光束表征任务,同时可在实验室和生产环境中高效运行。

使用 BeamGage,用户可以:

● 执行光斑尺寸、光束位置等标准化测量

● 追踪趋势、记录数据并执行合格 / 不合格测试

● 使用图像处理和可视化工具辅助对准与监测任务

紧凑的 USB 3.0 接口可轻松集成到实验室装置、自动化生产线以及对简洁性和耐用性有要求的现场部署环境中。